數字式硅晶體少子壽命測試儀
為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導法研制出了數字式少子壽命測試儀。

數字式硅晶體少子壽命測試儀

數字式硅晶體少子壽命測試儀

型號：ZD-LT-100C
 

產品編號：TC-002064

為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導法研制出了數字式少子壽命測試儀。                                                       
      該設備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計制造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業已運用了三十多年，積累了豐富的使用經驗，經過數次全國十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量；也可對硅片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。

DZ-LT-100C有以下特點：
1、 可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面進行測量。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。
2、  可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。
3、配備軟件的數字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時顯示動態光電導衰退波形，并可聯用打印機及計算機。
4、配置兩種波長的紅外光源：
a、紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準確測量晶體少數載流子體壽命。
b、短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強較強，有利于測量低阻太陽能級硅晶體。
5、測量范圍寬廣
測試儀可直接測量：
a、研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。
b、拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝范圍內的硅單晶、鍺單晶拋光片。
壽命可測范圍     0.25μS—10ms

微波光電導載流子復合壽命測試儀 型號： WJ-100A 
 產品簡介 
      WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質量的重要檢測項目。 
      壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。 
      讀數方式：數字直讀。

產品名稱：雨量計專業數據采集器 產品型號： CJ-1

雨量計專業數據采集器型號： CJ-1

 CJ-1型數據采集器，基于美國德州儀器公司的MSP430微型計算機設計，全部采用進口集成電路制造，功耗低、性能穩定。早期出廠的CJ-1采集器，有的使用已經過10年，依然*地運行良好。 
    CJ-1型數據采集器包括：雨量信號輸入接口、CPU處理器、數據存儲器、RS232通信接口等工作單元。從雨量計采集到的降雨數據，經過微機運算并儲存，通過RS232數據轉換后，用無線遠程發送至服務器（外加GPRS無線模塊）、或有線直接傳遞至本地電腦，提供雨量的實時監測、歷時查詢、預警報警等重要而有效的降雨量監控。 
    CJ-1型數據采集器允許兩種電源輸入：220V交流、或12V太陽能，用戶可以根據自己所在地的電源情況選擇。同時，它還內置了備用電池，當外界停電時，此備用電源可以提供72小時（三天）的工作電壓，以確保雨量數據傳輸不間斷。 
    性能指標： 
    1. 輸入接口： 脈沖，分辨率0.1mm 
    2. 輸出接口： RS232  ×2 個   
    3. 工作電壓： 交流220V±10%    或  直流 12V（太陽能） 
    4. 功    耗： 0.5W             或 2.1W（外接GPRS模塊） 
    5. 數據保存： 12個月（雨量數據） 
    6. 工作溫度： -40℃～60℃   
    7. 外形尺寸： 383mm（寬）×251mm（高）×70mm（厚） 
    8. 重    量： 約 7.1Kg 

產品名稱：靜電接地夾(螺旋線長為8米) 產品型號：ZJ-SC-03

靜電接地夾(螺旋線長為8米)  型號：ZJ-SC-03

1主要適用于槽車接地。
2傳感型回路靜電接地夾，可與電子設備連接 
3鑄鋁材質，整體防爆 
尺寸：160mm*90mm*45mm
螺旋線長為8米